想了解(jie)反(fan)壓高(gao)溫蒸煮儀(yi)性(xing)能和技術特(te)征(zheng)，看(kan)這(zhe)裏(li)

　　反壓(ya)高(gao)溫蒸煮儀(yi)是(shi)壹種小型(xing)微(wei)電(dian)腦(nao)程序控制設(she)備，采用(yong)電(dian)加熱方(fang)式，直接將(jiang)水(shui)註入(ru)蒸煮鍋(guo)內(nei)家人(ren)，產(chan)生(sheng)蒸煮需(xu)求的(de)高壓(ya)蒸汽，對(dui)需(xu)要(yao)蒸煮的(de)物(wu)品(pin)進行蒸煮，適(shi)用(yong)於食品(pin)包裝袋和相關(guan)薄膜等物(wu)品(pin)的(de)蒸煮。適(shi)用(yong)於食品(pin)用(yong)耐蒸等包煮包裝袋、雙向(xiang)拉(la)伸(shen)尼(ni)龍/低密度聚乙烯復(fu)合(he)膜袋等包裝產品(pin)的(de)耐高溫蒸煮性(xing)能試(shi)驗(yan)，也是(shi)食品(pin)科研(yan)單(dan)位(wei)作無(wu)菌包裝試驗(yan)的(de)理想設(she)備。
 

　　反(fan)壓(ya)高溫蒸煮儀(yi)性(xing)能：
 

　　加速壽命試(shi)驗(yan)的(de)目(mu)的(de)是(shi)提高環(huan)境(jing)應(ying)力(如(ru)：溫度)與(yu)工(gong)作應(ying)力(施加給產(chan)品(pin)的(de)電(dian)壓(ya)、負荷.等)，加快試(shi)驗(yan)過程(cheng)，縮短(duan)產(chan)品(pin)或(huo)系(xi)統的(de)壽命試(shi)驗(yan)時間(jian)。
 

　　用(yong)於調查分析(xi)何(he)時出現電(dian)子元(yuan)器(qi)件(jian)，和機(ji)械(xie)零(ling)件(jian)的(de)摩(mo)耗(hao)和使用(yong)壽命的(de)問(wen)題，使用(yong)壽命的(de)故障分(fen)布(bu)函數(shu)呈(cheng)什麽樣的(de)形(xing)狀(zhuang)，以(yi)及分析(xi)失(shi)效率(lv)上(shang)升(sheng)的(de)原因所進行的(de)試驗(yan)。
 

　　隨著半(ban)導體可(ke)靠性(xing)的(de)提高(gao)，目(mu)前大(da)多半(ban)導體器(qi)件能承(cheng)受長期的(de)THB試驗(yan)而不(bu)會(hui)產(chan)生(sheng)失效(xiao)，因此用(yong)來確(que)定成(cheng)品(pin)質(zhi)量(liang)的(de)測(ce)試(shi)時(shi)間(jian)也(ye)相應(ying)增加了許多(duo)。為(wei)了提高(gao)試驗(yan)效率(lv)、減(jian)少(shao)試驗(yan)時間(jian)，采用(yong)
 

　　壓力(li)蒸煮儀(yi)試(shi)驗(yan)方(fang)法。
 

　　反壓(ya)高(gao)溫蒸煮儀(yi)技術特(te)征(zheng)：
 

　　過(guo)溫、過壓(ya)、水(shui)位(wei)、漏電(dian)自(zi)動(dong)保護(hu)微處(chu)理器(qi)控制(zhi)，試驗(yan)過程(cheng)全自(zi)動(dong)；
 

　　微處(chu)理器(qi)控制(zhi)，試驗(yan)過程(cheng)全自(zi)動(dong)；
 

　　具反(fan)壓功能，無(wu)脹(zhang)破袋情(qing)況(kuang)；
 

　　風冷冷卻(que)，節約(yue)水(shui)資(zi)源(yuan)、節電(dian)；
 

　　每(mei)臺提(ti)供國家(jia)檢(jian)測(ce)規(gui)程(cheng)要(yao)求的(de)全部(bu)文件(jian)與相關檢(jian)測(ce)報告。